VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG

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Omni badge An Eclipse Environment for Z

The Integration of Z Language Support into Eclipse

信息学,信息技术

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-30) - ISBN-13: 978-3-639-03699-2

68.00 €
Omni badge Geistige Behinderung und Depression

Chancen der musiktherapeutischen Behandlung

心理学

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-30) - ISBN-13: 978-3-639-03730-2

59.00 €
Omni badge Integrating Knowledge Management in Education

Evaluating Current Organizational Congruence, Knowledge Management and Behavioral Alignment in Large School Districts

教育体系

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-30) - ISBN-13: 978-3-639-03830-9

79.00 €
Omni badge Coming-out und familiäre Beziehungen

Lesbische Frauen und ihre Herkunftsfamilie

社会学

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-29) - ISBN-13: 978-3-8364-6489-5

68.00 €
Omni badge Variationen von Kontexten primärer Sozialisation

Herkunftsfamilie, Pflegefamilie und Adoptivfamilie

经济学

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-29) - ISBN-13: 978-3-8364-6832-9

59.00 €
Omni badge Internationale Produktion - Global Footprint Design

Der Footprint ist metaphorisch gleichsam einem geografischen Fußabdruck, der Aufschluss über die globale Aufstellung der Wertschöpfungsstufen gibt.

管理

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-29) - ISBN-13: 978-3-8364-7012-4

68.00 €
Omni badge Der amerikanische Neokonservatismus

Eine Einordnung in die Theorie der Internationalen Beziehungen

政治理论和思想史

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-29) - ISBN-13: 978-3-8364-7120-6

49.00 €
Omni badge Attraktive Anna, selbstsicherer Sebastian?!

Welche Assoziationen wecken Vornamen? Eine empirische Untersuchung zur Wahl und Wirkung von Vornamen

实用心理学

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-29) - ISBN-13: 978-3-639-00134-1

79.00 €
Omni badge Process Modeling of Chemical Mechanical Planarization

An Integrated Model from Abrasive Scale to Chip Scale; Basics, Characterizations, Modeling and Verification

技术

VDM Verlag Dr. MŸller Aktiengesellschaft & Co. KG (2008-05-29) - ISBN-13: 978-3-639-00166-2

59.00 €

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