LAP LAMBERT Academic Publishing

227604 产品


Omni badge Electron Beam Induced Mass Loss of Sensitive Materials

Low Voltage Scanning Transmission Electron Microscopy

生物化学 ,生物物理学

LAP LAMBERT Academic Publishing (2014-11-05) - ISBN-13: 978-3-659-62843-6

54.90 €

Adyen::maestro Adyen::amex Adyen::cup Adyen::diners Adyen::discover Adyen::jcb Adyen::visa Adyen::mc Adyen::alipay Adyen::bankTransfer_IBAN Adyen::directEbanking Adyen::mobilepay Adyen::paypal Adyen::unionpay 银行转帐

LOGIN
  0产品在购物车内
编辑购物车
Loading frontend
LOADING